Messung von Rauheit, Textur und Mikrostrukturen

Polytec GmbH

Der 100-mm-XY-Tisch erweitert die Profilometer der TopMap-Familie zu einer kompletten Teststation für 2D- und 3D-Profile von Rauheit, Textur, Finish, Mikrostrukturen, Kratzern und Defekten sowie Formparametern – aufgelöst im Sub-Nanometerbereich.

Das kompakte Weisslichtinterferometer bietet 100 mm Verfahrweg in X und Y, während der True Stitching Modus selbst an Rändern des Einzelbildfeldes und darüber hinaus verlässliche Messdaten liefert. Mit schnellerer Kipp-Neigefunktion, dem Polytec-eigenen Focus Finder und Focus Tracker sowie automatischer Zentrierung liefert dieses optische Rauheitsmessgerät wiederholgenaue Messungen, was die Verlässlichkeit und Geschwindigkeit im Testlabor und bei der Qualitätskontrolle signifikant verbessert. Nutzer wählen zwischen verschiedenen Objektiven wie dem klassischen 2,5X, 10X bis 111X, darunter auch Varianten für matte wie reflektierende Flächen.
Mit dem neuen motorisierten 100-mm-Verfahrtisch sind die TopMap Micro.View Profilometer ideal für schnellere Inspektionen auch grösserer Präzisionsteile, Elektronik in der Grössenordnung von 4’’-Wafern, Mikrosystem-Arrays oder effizientere Tray- und Multi-Sample-Messungen. Mehr dazu mittels Link.

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