Vom Antasten zur flächigen Analyse

Klassische Koordinatenmesstechnik basiert seit Jahrzehnten auf taktiler Antastung. Geometrien werden Punkt für Punkt erfasst und daraus rekonstruiert. Dieses Prinzip ist bewährt – stösst jedoch bei komplexen Mikrogeometrien und funktionalen Oberflächen zunehmend an seine Grenzen. Das µCMM NEO setzt hier an und verfolgt einen anderen Ansatz: Statt selektiver Punktmessung werden vollständige Geometrien als dichte 3D-Datensätze erfasst – schnell, reproduzierbar und unabhängig von Materialeigenschaften. Damit verändert sich nicht nur die Messung selbst, sondern auch die Bewertung von Bauteilen in der Qualitätssicherung.

Grundlegend neu konzipiert
Das µCMM NEO ist keine Weiterentwicklung im klassischen Sinn. Das System wurde von Grund auf neu gedacht. Im Vergleich zur ersten Generation erreicht es eine bis zu doppelt so hohe Messgeschwindigkeit und reduziert damit Zykluszeiten sowohl im Messraum als auch in der Produktion deutlich. Gleichzeitig wurde die Achsgenauig-keit weiter verbessert und liegt nun bei einem Wert von EUni:Tr:ODS,MPE – (0,7 + L/600) µm (L n mm) – einem Präzisionsniveau, das die Positionierung des Systems im Highend-Segment einmal mehr unterstreicht. Basis dafür ist eine neu entwickelte industrielle Architektur mit verschleissfreien Achsen. Sie gewährleistet stabile Prozesse und reproduzierbare Messergebnisse – auch unter realen Fertigungsbedingungen.

Vier Technologien, ein Messsystem
Ein wesentlicher Vorteil des µCMM NEO liegt in der Integration mehrerer Messverfahren in einem System. Advanced Focus-Variation, Vertical Focus Probing, Focus Probing und Real3D ermöglichen Mass-, Form-, Lage- und Oberflächenanalysen ohne Systemwechsel. Das reduziert typische Fehlerquellen wie Umspannen oder Abweichungen zwischen unterschiedlichen Messsystemen und vereinfacht den gesamten Messprozess erheblich.
Für Anwender bedeutet das:

• weniger Schnittstellen
• geringere Komplexität
• höhere Prozesssicherheit

Wo klassische Messtechnik an Grenzen stösst
Die Stärke des µCMM NEO liegt nicht in einem einzelnen Feature, sondern im Zusammenspiel mehrerer Eigenschaften, die bekannte Grenzen der Koordinatenmesstechnik überwinden. «Über viele Jahre bedeutete Koordinatenmesstechnik, Realität zu sampeln – einzelne Punkte zu erfassen und daraus Geometrien abzuleiten», erklärt Urban Muraus, General Manager bei Bruker Alicona. «Heute geht es darum, komplette Oberflächen zu verstehen. Genau diesen Schritt ermöglichen wir mit dem µCMM NEO.»
Durch die 5-Achs-Kinematik bleibt die Messgenauigkeit über das gesamte Messvolumen konstant. Merkmale können im Kontext bewertet werden – unabhängig von ihrer Lage auf dem Bauteil. Gleichzeitig reduziert das System die Fragmentierung klassischer Messprozesse. In vielen Anwendungen sind Massprüfung, Formanalyse und Oberflächencharakterisierung noch immer auf mehrere Systeme verteilt. Das µCMM NEO führt diese Aufgaben in einer Plattform zusammen und eliminiert damit Schnittstellen, die häufig zu Streuung, Justageaufwand und Zeitverlust führen.
Gerade bei Mikrostrukturen wird dieser Vorteil entscheidend: Mit zunehmender Miniaturisierung stossen taktile Verfahren an physikalische Grenzen – etwa durch Tastspitzengrösse oder eingeschränkte Zugänglichkeit. Das µCMM NEO arbeitet berührungslos und erfasst auch feinste Strukturen und funktionale Details zuverlässig. Ein typisches Beispiel sind Mikrobohrungen oder tiefe Geometrien, bei denen taktile Systeme häufig an Stabilität oder Zugänglichkeit scheitern. Der optische Ansatz ermöglicht hier eine robuste und reproduzierbare Datenerfassung.
«Unser Ziel war nicht nur, die Leistungsfähigkeit zu steigern, sondern Messprozesse zu vereinfachen», so Muraus. «Die Kombination aus Mass-, Form- und Oberflächenanalyse in einem System reduziert Komplexität – und führt gerade im Mikrobereich zu deutlich stabileren Ergebnissen.»

Ein Schritt nach vorn – nicht zurück
Auch wenn die Vorstellung des µCMM NEO im Jubiläumsjahr erfolgt, ist sie kein Blick in die Vergangenheit, sondern ein klarer Ausblick. Optische Messtechnik hat sich in den letzten 25 Jahren von einer Speziallösung zu einem industriellen Standard entwickelt. Das µCMM NEO ist Ausdruck dieser Entwicklung – und gleichzeitig Antwort auf die steigende Komplexität moderner Fertigung.
Das erste System wurde bereits von einem langjährigen Kunden aus der hochpräzisen Stanz- und Werkzeugfertigung bestellt. Dieser hatte bereits die erste Generation des µCMM im Einsatz – ein klares Zeichen für die kontinuierliche Zusammenarbeit im Bereich Präzisionsfertigung. Der Serienhochlauf ist in Vorbereitung, erste Auslieferungen sind für das vierte Quartal 2026 geplant.

Wohin sich Koordinatenmesstechnik entwickelt
Die Entwicklung zeigt eine klare Richtung: Messtechnik beschränkt sich nicht mehr auf die Verifikation einzelner Masse. Sie wird zunehmend zum Werkzeug, um Oberflächen, Funktionen und Fertigungsprozesse ganzheitlich zu verstehen. Mit dem µCMM NEO bringt Bruker Alicona nicht nur ein neues System auf den Markt, sondern definiert, wie Koordinatenmesstechnik künftig gedacht wird.

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